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ZWLAM385

应用场景

大型光学透镜检测、半导体领域的晶圆缺陷检测、精密制造和封装等

产品介绍


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产品特点

高性能直驱气浮平台,高动态性能

采用空气环绕型预载,非接触设计

为高性能扫描和检测应用量身设计

纳米级定位精度的气浮平台

双动子直线电机驱动

可作单轴使用,或与其它轴组成多轴系统

非常适合重负载的应用


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结构特点

利用空气弹性势能作为支撑导轨,实现滑轨

与滑台零摩擦

优秀的动态性能和定位精度

气浮平台正负压设计

大体积负载在气浮导轨上重力不均匀分布的

应用,可以更好的保证空气导轨的正常气隙


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定制化

更大行程可接受定制


产品参数

平台型号

ZWLAM385-100

ZWLAM385-200

ZWLAM385-300

ZWLAM385-400

ZWLAM385-500

有效行程

100m m

200mm

300mm

400mm

500 mm

定位精度

±0.2 μm

±0.3 μm

±0.3 μm

±0.4 μm

±0.5 μm

双向重复定位精度

±0.1μm

±0.1 μm

±0.2 μm

±0.25μm

±0.3 μm

俯仰

+1.5 arc sec

±2.5 arc sec

±3 arc sec

±4 arc sec

±5 arc sec

偏摆

+1.5 arc sec

+2.5 arc sec

+3 arc sec

±4 arc sec

+5 arc sec

横滚

+1.5 arc sec

+2.5 arc sec

±3 arc sec

±4 arc sec

±5 arc sec

直线度

±0.5 μm

±0.6 μm

±0.75 μm

±1.5 μm

±2 μm

平面度

±0.5 μm

±0.6 μm

±0.75 μm

±1.5 μm

±2μm

分辨率

1nm

最大加速度

2g

最大速度

1000 mm/s

最大水平负载

60 kg

最大径向负载

30 kg

持续推力

156 N

峰值推力

864 N

在位稳定性

±10 nm

工作气压

5.5 bar(建议干燥空气,滤水滤油,粉尘过滤到0.5μm以下)

平台质量

40.9kg

46.2kg

51.5kg

56.8kg

62.1kg

平台材质

平均无故障时间

25000Hours


注释:以上测试数据在实验室环境下,测试点位于中心点上方 25mm处,由线性放大器得出

外形尺寸

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